RF電源を搭載した小型の高周波スパッタリング装置です。
金属、半導体、絶縁物の成膜が可能なため、基礎研究開発等の実験用に最適です。
特徴
1.絶縁物・金属・半導体材料のスパッタ装置です。
2.メインポンプに油拡散ポンプを使用しています。
3.φ80mm×1基のカソードで、単層成膜が可能です。
4.コンベンショナルスパッタで、スパッタ速度20nm/min(SiO2)が
得られます。
ターゲット材料 | Si3N4、 NiCr |
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堆積膜厚 | Si3N4: 約75nm、 NiCr: 約50nm |
堆積目的 | Si3N4: 絶縁膜のため、 NiCr: 歪み抵抗のため |
基板サイズ | 切断ウエハ(4cm角の正方形型) |
コメント | 高真空での製膜は困難?(ピラニ真空計では2.4Pa程度が限界)、 ガスを入れての製膜も困難?(ガスを入れるバルブが壊れている可能性) |